目前，可測性設計方法主要有掃描路徑檢測法、邊界掃描檢測法和內建自測試等下面將分別從各個方法介紹其研究現狀。

掃描路徑法早在1963年Kobayashi在一篇日文文獻上發表過該方案，IBM的Williams Carter 在 1973年提出的方案中採用了類似的結構，到如今掃描鏈方案已經趨向成熟。目前為了應對晶片規模的增大、掃描鏈條數的增加、測試向量的增加，測試向量壓縮技術的研究成為迫切需要解決的問題。

傳統的壓縮方法是將測試立方集編碼為以邏輯值0和1 表示的編碼資料，主要有基於編碼的壓縮方法、基於線性解壓器的壓縮方法、基於廣播掃描的壓縮方法。近年來，劉傑鏜等人提出一種映象對稱的參考切片相容的測試資料壓縮方法。

映象對稱的參考切片是將原本單一的參考切片進行一次映象變換後得到一組映象切片，映象對稱的參考切片一方面增加了參考切片的數量，一方面變換了參考切片的形式，使得掃描切片和參考切片的相容機率增大，確實能夠提高測試向量的壓縮率，但當參考切片關於自身是軸對稱時，參考切片與其映象切片則是一樣的。

ShihpingL、Chunaglen L、 Jwue CH等人提出對測試資料集進行多次相容壓縮的方法，多次相容壓縮會將測試向量進行多次壓縮，導致解壓時需要進行多次解壓，因而會導致晶片的硬體複雜而且面積消耗較大。

陳田、左永生、安鑫、任福繼等人提出基於三態訊號對測試資料進行相容壓縮的方法，基於三態訊號的壓縮方法雖然結構簡單且壓縮率較高，但需要相應的ATE 裝置支援三態訊號的傳輸，同時晶片內部還要設計相應的識別三態訊號的電路結構。

邊界掃描法在 1980年時，歐洲的設計者們就已經開始對此進行技術研究，並於1985 年成立了一支歐洲聯合測試團隊（Joint European Test Action Group，簡稱JETAG），開始制定邊界掃描法的標準。

1986 年這個小組命名為聯合測試團隊（Joint TestAction Group，簡稱 JTAG）），其成員範圍拓展到歐洲、北美洲。JTAG 所設計和制定的標準在 1990年被批准為IEEE1149。1標準，簡稱JTAG標準。後來逐漸形成了多個IEEE標準，如IEEE1149。2、IEE1149。4、IEEE1149。5、IEEE1149。6等。設計人員可基於這些標準協議，根據晶片的需求進行相關的JTAG設計。

內建自測試通常應用在測試儲存器中，在最早，有 March 一類的演算法被提出，March演算法的測試覆蓋率高且演算法的複雜度較低，應用也很廣泛。2012年，Harutyunyan G提出了一種 March LSD演算法。2014年，Krishna K M，Sailaja M提出一種低功耗儲存器測試地址生成演算法。

同年，Hou CS，LiJF等人提出一種檢測儲存器干擾故障的方法。2019年，曾健平、王振宇、袁甲、彭偉、曾雲等人提出一種 March CS演算法，該演算法透過改進 March C 演算法，從而使得提高了SRAM儲存器的測試覆蓋率。